详细摘要： 半导体分力器件测试仪 型号:VV522-CS2935二、测试参数1． 二极管VF、IR、BVR2． 稳压（齐纳）二极管VF、IR、BV Z3． 晶体管 Trai...
产品型号：M398111所在地：北京市更新时间：2023-05-18 在线留言PLC 工控机 嵌入式系统 人机界面 工业以太网 现场总线 变频器 机器视觉 DCS PAC/PLMC SCADA 工业软件 ICS信息安全 无线通讯 机箱机柜
深圳市达瑞博电子有限公司
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详细摘要： 半导体分力器件测试仪 型号:VV522-CS2935二、测试参数1． 二极管VF、IR、BVR2． 稳压（齐纳）二极管VF、IR、BV Z3． 晶体管 Trai...
产品型号：M398111所在地：北京市更新时间：2023-05-18 在线留言
详细摘要： 西纳电气之SEMIKRON分离半导体器件SEMIKRON是二极管/晶闸管半导体市场的*，并且占有30％的*。
产品型号：所在地：天津市更新时间：2016-02-22 在线留言
详细摘要： SPA-6100半导体器件iv+cv测试仪参数分析仪支持Z高1200V电压、100A大电流、1pA小电流分辨率的测量，同时检测10kHz至1MHz范围内的多频A...
产品型号：SPA-6100所在地：武汉市更新时间：2024-06-13 在线留言
详细摘要： 普赛斯数字源表搭建简易CV测试系统CV测试机主要由源表、LCR 表、矩阵开关和上位机软件组成。LCR表支持的测量频率范围在0.1Hz~1MHz，源表(SMU)负...
产品型号：普赛斯所在地：武汉市更新时间：2024-06-07 在线留言
详细摘要： 普赛斯以自主研发为导向，深耕半导体测试领域，在I-V测试上积累了丰富的经验，先后推出了直流源表，脉冲源表、高电流脉冲源表、高电压源测单元等测试设备，广泛应用于广...
产品型号：PMST-3500V所在地：武汉市更新时间：2024-06-05 在线留言
详细摘要： 普赛斯仪表专业研究和开发半导体材料与器件测试的专业智能装备，产品覆盖半导体领域从晶圆到器件生产全产业链。推出基于高精度数字源表(SMU）的第三代半导体功率器件静...
产品型号：PMST-3500V所在地：武汉市更新时间：2024-05-31 在线留言
详细摘要： 普赛斯半导体功率器件C-V测试系统主要由源表、LCR表、矩阵开关和上位机软件组成。LCR表支持的测量频率范围在0.1Hz~1MHz，源表(SMU)负责提供可调直...
产品型号：普赛斯所在地：武汉市更新时间：2024-03-27 在线留言
详细摘要： 普赛斯现在可以提供完整的IGBT芯片和模块参数的测试方法,可以轻松实现静态参数l-V和C-V的测试，最终输出产品Datasheet报告。这些方法同样适用于宽禁带...
产品型号：PMST-8000V所在地：武汉市更新时间：2024-03-14 在线留言
详细摘要： 晶体管泛指一切以半导体材料为基础的单一元件，是一种半导体器件，放大器或电控开关常用；包括各种半导体材料制成的二极管、三极管、场效应管、晶闸管（后三者均为三端子）...
产品型号：PMST-8000V所在地：武汉市更新时间：2024-03-13 在线留言
详细摘要： 普赛斯专业研究和开发半导体材料与器件测试的专业智能装备，产品覆盖半导体领域从晶圆到器件生产全产业链。推出基于高精度数字源表(SMU）的第三代半导体功率器件静态参...
产品型号：PMST-8000V所在地：武汉市更新时间：2024-03-07 在线留言
详细摘要： 硅基|碳化硅特性曲线测试设备认准普赛斯仪表，普赛斯基于高精度数字源表(SMU）的第三代半导体功率器件静态参数测试方案，为SiC和GaN器件提供可靠的测试手段，实...
产品型号：PMST-3500V所在地：武汉市更新时间：2024-03-07 在线留言
详细摘要： 武汉普赛斯功率MOS管CV测试仪主要由源表、LCR 表、矩阵开关和上位机软件组成。LCR表支持的测量频率范围在0.1Hz~1MHz，源表(SMU)负责提供可调直...
产品型号：普赛斯所在地：武汉市更新时间：2023-11-29 在线留言
详细摘要： 武汉普赛斯功率器件CV测试仪主要由源表、LCR 表、矩阵开关和上位机软件组成。LCR表支持的测量频率范围在0.1Hz~1MHz，源表(SMU)负责提供可调直流电...
产品型号：普赛斯所在地：武汉市更新时间：2023-11-27 在线留言
详细摘要： 普赛斯功率半导体器件CV测试系统主要由源表、LCR 表、矩阵开关和上位机软件组成。LCR表支持的测量频率范围在0.1Hz~1MHz，源表(SMU)负责提供可调直...
产品型号：普赛斯所在地：武汉市更新时间：2023-11-23 在线留言
详细摘要： 作为数字源表生产厂家，普赛斯仪表自主研发的高精度数字源表，田补国产空白，集电压、电流输入输出及测量等多种功能，S系列Z大输出电压达300V，最小测试电流达100...
产品型号：S300B所在地：武汉市更新时间：2023-10-30 在线留言
详细摘要： 普赛斯仪表专业研究和开发半导体材料与器件测试的专业智能装备，产品覆盖半导体领域从晶圆到器件生产全产业链。推出基于高精度数字源表(SMU）的第三代半导体功率器件静...
产品型号：PMST-3500V所在地：武汉市更新时间：2023-10-24 在线留言
详细摘要： 半导体分立器件电性能测试是对待测器件施加电压或电流,然后测试其对激励做出的响应,通传统的分立器件特性参数测试需要几台仪器完成,如数字万用表、电压源、电流源等。实...
产品型号：S300B所在地：武汉市更新时间：2023-10-19 在线留言
详细摘要： iv测试仪+半导体器件iv曲线扫描仪器在一个半机架尺寸的仪器中结合了电压源、电流源、电压表、电流表、电子负载等功能，这些测试功能，令S型触摸屏数字源表具有I-V...
产品型号：S300B所在地：武汉市更新时间：2023-10-17 在线留言
详细摘要： 普赛斯五合一高精度数字源表（SMU）在半导体IV特性测试方面拥有丰富的行业经验，为半导体分立器件电性能参数测试提供全面的解决方案，包括二极管、MOS管、BJT、...
产品型号：S100B所在地：武汉市更新时间：2023-09-21 在线留言您感兴趣的产品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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